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日本TET靜電ESD測試儀$n該系列測試機臺陣容有：$n●7000B-E（專用于ESD試驗）$n●7000B-L（專用于閂鎖試驗）$n●7000B-EL（用于ESD/閂鎖試驗）

日本HBM測試儀本產品可進行器件級ESD測試，包括CDM測試。可應用于器件開發評價、器件認證和進廠測試、評價、使用環境評價等各種試驗用途。

日本半導體MM測試儀本產品可進行器件級ESD測試，包括CDM測試。可應用于器件開發評價、器件認證和進廠測試、評價、使用環境評價等各種試驗用途。

日本半導體HBM測試儀本產品可進行器件級ESD測試，包括CDM測試。可應用于器件開發評價、器件認證和進廠測試、評價、使用環境評價等各種試驗用途。

日本TET半導體靜電測試儀陣容有： ●1100-ESD（ESD試驗專用型號） ●1100-CDM （CDM試驗專用型號） ●1100-LUP （LATCH UP閂鎖 試驗專用型號）

日本半導體閂鎖測試儀$n系列測試機臺陣容有：$n●7000X-E（專用于ESD試驗）$n●7000X-L（專用于閂鎖試驗）$n●7000X-EL（用于ESD/閂鎖試驗）